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变温霍尔效应实验仪

更新时间:2022-01-19

产品型号:LK-HT-648

厂家性质:经销商

访问次数:108

简要描述:

霍尔效应的测量是开展半导体研究的重要方法。本机利用计算机的数据采集和处理在80K-400K温度范围内对霍尔系数和电导率的联合测量,进行半导体导电机制及散射机制的研究,并可确定半导体的一些基本参数,如导电类型、载流子浓度、迁移率、禁带宽度以及杂质电离能等。

霍尔效应的测量是开展半导体研究的重要方法。本机利用计算机的数据采集和处理在80K-400K温度范围内对霍尔系数和电导率的联合测量,进行半导体导电机制及散射机制的研究,并可确定半导体的一些基本参数,如导电类型、载流子浓度、迁移率、禁带宽度以及杂质电离能等。

主要技术指标

1.电磁铁   0-300mT连续可调

2. 励磁电源0-5A连续可调  可自动换向稳定性﹤±0.1%

3. 数字特斯拉计0-2000mT 三位半数字显示   分辨率0.001

4. 恒流源输出1mA 稳定性±0.1%

5. 数据采集系统霍尔电压测量最小分辨率1uV

6. 温度变化测量范围    80-400K

7. 整套仪器由电磁系统、电源控制系统机箱、测量系统主机、恒温器四部分组成

8. 探头样品采用单晶锗片


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