紫外辐照计

紫外辐照计  紫外线强度检测仪  型号：XRS-uv-340型

该仪器适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

u主要性能指标

※波长范围及峰值波长:

uv-340探头:λ:(315~370)nm;λp=340nm

※辐照度测量范围:

(0.1~199.9×103)μw/cm2

※紫外带外区杂光:

uv340:小于0.05%

※余弦特性:

符合国家二级光照度标准

※示值相对误差:

±10%

※响应时间:

1秒

※使用环境:

温度(0~40)℃;湿度<85%rh

※尺寸和重量:

180mm×80mm×36mm;0.2kg

※电源:

9v积层电池(6f22型)一只

紫外辐照计  紫外线强度检测仪  型号：XRS-uv-340型

该仪器适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

u主要性能指标

※波长范围及峰值波长:

uv-340探头:λ:(315~370)nm;λp=340nm

※辐照度测量范围:

(0.1~199.9×103)μw/cm2

※紫外带外区杂光:

uv340:小于0.05%

※余弦特性:

符合国家二级光照度标准

※示值相对误差:

±10%

※响应时间:

1秒

※使用环境:

温度(0~40)℃;湿度<85%rh

※尺寸和重量:

180mm×80mm×36mm;0.2kg

※电源:

9v积层电池(6f22型)一只