更新时间:2024-04-11
产品型号:XRS-KDB-2B
厂家性质:经销商
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本设备采用四探针法专用于金属薄膜方块电阻,HAD-KDB-2B 测试仪严格参照国际标准SEMI MF 374-0307 对设备的要求研制,运用了先进的半导体薄层测量技术,无需特别制样,可测不规则的金属薄膜。技术指标:方块电阻测量范围(3 位有效数字):0.00001-0.3Ω/□。测量电流分两档:100mA 和 1000mA。最小分辨率:0.00001Ω/□。试样尺寸:直径大于 32m
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