更新时间:2024-05-06
产品型号:XRS-KDB-2B
厂家性质:生产厂家
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本设备采用四探针法专用于金属薄膜方块电阻,XRS-KDB-2B 测试仪严格参照国际标准SEMI MF 374-0307 对设备的要求研制,运用了先进的半导体薄层测量技术,无需特别制样,可测不规则的金属薄膜。
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